В Москве в Национальном исследовательском университете «МИЭТ» прошла II научно-практическая конференция «Технологии микросистем, корпусирования и сборки ЭКБ».

Одним из организаторов этого знакового для российской микроэлектроники события, собравшего участие более 200 человек и более 40 компаний-участников, выступило ООО «Совтест АТЕ», генеральным директором которого является сопредседатель курского отделения «Деловой России» Игорь Марков.

На конференции ведущие эксперты отрасли презентовали актуальные решения в области высокоплотного корпусирования, технологий предкорпусирования, производства композитных материалов и проектирования 3D микросборок с использованием российских САПР.

ООО «Совтест АТЕ» представило сразу несколько собственных разработок: установку «УМКА» для автоматического монтажа полупроводниковых кристаллов, не имеющую отечественных аналогов на рынке, а также автоматическую зондовую установку для тестирования электрических параметров интегральных микросхем и полупроводниковых приборов.

Кроме того, в рамках конференции представители компании рассказали о технологических вызовах в разработке и производстве оснастки (проб-карт, УКФ) для измерений параметров современной ЭКБ на пластине.

Отметим, «Совтест АТЕ» сегодня является первым и единственным в России производителем проб-карт (УКФ) с полным циклом. Это разработанная предприятием технология мирового уровня закрывает ключевые потребности отечественных производителей микроэлектроники. Она обеспечивает синергетический эффект, поскольку предприятие также поставляет зондовые станции и тестовые системы собственной разработки. Это даёт заказчику решение «под ключ» для автоматизированных измерений электропараметров на полупроводниковой пластине.